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软件介绍
Avantage 5.9 是 Thermo Scientific 赛默飞推出的 XPS 光电子能谱专用分析软件,主要用于处理 X 射线光电子能谱测试数据,完成谱图导入、荷电校正、分峰拟合、元素定量、深度剖析处理,适配赛默飞系列 XPS 仪器输出数据格式,材料、化工、表面分析实验室常用版本,仅支持 Windows 平台运行。
功能特点
- 完整 XPS 数据处理流程,原始谱图导入、荷电偏移校正、背景扣除、平滑降噪、寻峰标定,可对 C、O、N、金属等元素高分辨谱进行分峰拟合,解析不同化学价态。
- 元素定量计算,基于灵敏度因子自动计算各元素原子百分比含量,输出元素相对浓度报表,支持导出表格数据,用于论文绘图。
- 深度剖析数据分析,处理离子刻蚀深度溅射数据,生成元素随深度变化的成分分布曲线,分析薄膜多层结构成分变化。
- 谱图对比与批量处理,多组谱图叠加对比,批量处理同批次测试文件;支持图谱导出图片,适配期刊论文发表配图需求。
- 兼容仪器原始格式,直接读取赛默飞 K‑Alpha、ESCALAB 等设备原始数据,同时兼容通用 VAMAS 格式,可导入第三方 XPS 测试数据。
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